涂层测厚仪膜厚计-商贸信息-中国食品科技网

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供应涂层测厚仪膜厚计上海上海

涂层测厚仪膜厚计技术参数

适用底材：Fe磁性底材（铁、钢）/ NFe非磁性底材（铝、锌、铜、黄铜等）
测量范围：0.0~5000μm
分辨率：0.00~999μm / 1.00~5.00mm
测量面积：最小10x10mm2
测量半径：凸面5mm (0.2”) / 凹面25mm (1”)
底材厚度：Fe最薄0.2mm / NFe最薄0.05mm
温度范围：0~60℃
适用测头：可更换QuaNix®全系列测头
电源供应：9V碱性电池x1 (Auto power on/off)
尺寸重量：120x60x26mm 150g
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涂层测厚仪膜厚计主要特点

◆只要将探头与样品接触即可完成测量
◆可任意更换为内建式或外接式探头，无需校正就能确保高精确度
◆先进Hall-Sensor技术，与一般采用电磁感应原理的膜厚计不同，不会产生传统的磁滞流失；Hall Sensor以0 Hz操作，所有的参数皆已储存微芯片内，测量前用归零板归零即可，无需校正即可确保精确度！
◆Touch & Read功能，测头与物体接触立即完成测量！
◆体积轻巧的模块化设计，可更换全系列QuaNix®磁性/非磁性/两用型测头；更换测头后可立即使用，不需再校正
◆使用时自动开启电源，测量时自动切换显示单位，不使用时自动断电
◆电池寿命长达20,000次测试
◆通过ISO9001认证，符合下列四项标准规范:
DIN 50981, 50984
ISO 2178, 2360, 2808
BS 5411(3, 11), 3900(C, 5)
ASTM B499, D1400
◆每台均附有PTB(Federal physical technical institute)最高国家标准的可追溯校验证书
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涂层测厚仪膜厚计仪器介绍

适用于金属表面涂层、镀层的厚度测量，作为膜厚测量底层技术上的领导者，科隆膜厚仪全部基于最新霍尔传感技术（Hall-Sensor），它可以本质上解决温度对测量精确性的影响和克服以往技术上需要频繁严格校正的弱点，从而带给您最便捷的使用和最准确的涂层数据

若需公司产品详细资料请浏览公司主页:

boxin.instrument.com.cn

信息编号：B0236898 更新时间：2008年1月17日

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